深圳谷易电子生产的UFS153pin芯片测试座socket—UFS芯片测试夹具,简介,性能,特点,规格,应用,生产厂家

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主营产品：定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

EMCP/EMMC/UFS系列

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谷易电子UFS153pin芯片测试座socket—UFS芯片测试夹具

UFS153芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：UFS
芯片引脚：153pin（实际下针87mm）
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：11.5*13mm
接触介质：探针
测试座结构：下压式
测试座材料：合金、PEEK

谷易电子生产提供封装种类齐全BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/TO/LGA/LCC/DDR/FPC/connector/IMU socket等，大量现货标准品，并支持一件定制。

深圳谷易电子生产的UFS153pin芯片测试座socket—UFS芯片测试夹具的产品简介,性能,特点,规格,应用,生产厂家介绍

产品介绍：
产品名称:UFS153pin(实际下针87)-0.5mm-11.5x13mm的合金顶窗芯片测试座
使用用途：对UFS153pin(实际下针87)芯片进行模拟电路测试、性能测试用，支持芯片功能性测试、芯片可靠性测试
性能参数：有10pin需要过8Ghz的高速，其他普通pin过500mhz即可，没有高低温老化需求

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