深圳谷易电子生产的BTB40pin连接器测试微针模组—大电流测试微针模组_简介_性能_特点_规格_应用

深圳市谷易电子有限公司欢迎您！

热搜关键词： 微针模组、BGA、DDR、SOP/TSOP、QFP、TO封装系列

深圳市谷易电子有限公司

联系电话：13823541376

联系人：兰小姐

邮箱：sales@goodesocket.com

主营产品：定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

微针模组

当前位置：首页 > 产品中心 > 微针模组

BTB40pin连接器测试微针模组—大电流测试微针模组

BTB40pin连接器测试微针模组规格参数：
连接器类型：BTB
连接器引脚：40pin
连接器引脚间距：0.35mm

深圳谷易电子生产的BTB40pin连接器测试微针模组—大电流测试微针模组的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

BTB40pin连接器测试微针模组测试条件要求：

连接器测试电流：300mA

连接器测试频率：500Mhz

工作温度：常温即可

BTB连接器测试微针模组结构：下压式

连接器测试微针模组材料：PEI