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主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

QFP封装系列

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PIC18F85K90-I-PT TQFP-80 0.5间距 QFP80测试座 OTQ-80-0.5-02B

定制类型:QFN、DFN、集成模块、BGA等芯片的各种:测试座、老化座、测试治具、测试夹具、自动化设备等。
常见芯片:WIFI、互联网、传感器、车规芯片、电源芯片等。
PCB定制:可以提供通用转48pin双排针转接板、也可以根据需求定制,免费画板。
IC脚位间距:0.2、0.3、0.35、0.4、0.45、0.5、0.65、0.8、1.0、1.27、2.54mm等。
IC封装:QFN、QFP、BGA、DFN、传感器、晶振、电源芯片等(弹性结构,可兼容不同厚度)
高低温范围:常规-55°C~+180°C,更高温度可定制。
高低频率范围:常规1Ghz~5Ghz,更高频率可定制。
适用于:测试、烧录、老化、分析芯片。
使用寿命:普通测试、烧录10万次。(有更长可选用)
交期:普通交期3~5天,定制交期:7个工作日。


产品用途:老化座、测试座,对QFP80的IC芯片进行测试

适用封装:TQFP80、 QFP80、引脚间距0.5mm
测试座:IC234-0804-001
特点:适用于TQFP80、 QFP80、引脚间距0.5mm所以IC

对应国外产品型号:OTQ-80-0.5-02B

规格尺寸
QFP80 老化座/测试座适用芯片详细规格

型号:IC51-0324-1498 引脚间距(mm):0.5 脚位:80 A*B(mm):14*12.6 C*D(mm):14*12 E(mm):17.3*15.4 G*H(mm):30.0*35.5


订购热线:19921126284

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产品用途:老化座、测试座,对QFP80的IC芯片进行测试
适用封装:TQFP80、 QFP80、引脚间距0.5mm
测试座:IC234-0804-001
特点:适用于TQFP80、 QFP80、引脚间距0.5mm所以IC

对应国外产品型号:OTQ-80-0.5-02B

规格尺寸
QFP80 老化座/测试座适用芯片详细规格

型号:IC51-0324-1498 引脚间距(mm):0.5 脚位:80 A*B(mm):14*12.6 C*D(mm):14*12 E(mm):17.3*15.4 G*H(mm):30.0*35.5