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主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

QFP封装系列

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QFP100-0.5测试座下压弹片LQFP编程座老化座OTQ-100-0.5-09

定制类型:QFN、DFN、集成模块、BGA等芯片的各种:测试座、老化座、测试治具、测试夹具、自动化设备等。
常见芯片:WIFI、互联网、传感器、车规芯片、电源芯片等。
PCB定制:可以提供通用转48pin双排针转接板、也可以根据需求定制,免费画板。
IC脚位间距:0.2、0.3、0.35、0.4、0.45、0.5、0.65、0.8、1.0、1.27、2.54mm等。
IC封装:QFN、QFP、BGA、DFN、传感器、晶振、电源芯片等(弹性结构,可兼容不同厚度)
高低温范围:常规-55°C~+180°C,更高温度可定制。
高低频率范围:常规1Ghz~5Ghz,更高频率可定制。
适用于:测试、烧录、老化、分析芯片。
使用寿命:普通测试、烧录10万次。(有更长可选用)
交期:普通交期3~5天,定制交期:7个工作日。



型号:QFP-100-0.5-809,

引脚间距(mm):0.5,

脚位:100,

芯片尺寸:14*14

订购热线:19921126284

(电话微信同号)

厂家介绍:

谷易电子生产QFP100-0.5 测试座 下压弹片 LQFP编程座 老化座 OTQ-100-0.5-09,同时生产其他IC测试设备

产品简介

产品用途:编程座、测试座,对QFP100的IC芯片进行烧写、测试
适用封装:QFP100引脚间距0.5mm
测试座:OTQ-100-0.5-09
特点:在两侧分别引出所有IO口,方便用户整理插线

对应国外产品型号:OTQ-100-0.5-09

规格尺寸
QFP100 编程座/测试座适用芯片详细规格,以及适配座外形尺寸:

型号:QFP-100-0.5-809,引脚间距(mm):0.5,脚位:100,芯片尺寸:14*14