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主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

QFP封装系列

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IC51-1004-809-23下压弹片老化座_STM32F103VET6_OTQ-100-0.5-09

定制类型:QFN、DFN、集成模块、BGA等芯片的各种:测试座、老化座、测试治具、测试夹具、自动化设备等。
常见芯片:WIFI、互联网、传感器、车规芯片、电源芯片等。
PCB定制:可以提供通用转48pin双排针转接板、也可以根据需求定制,免费画板。
IC脚位间距:0.2、0.3、0.35、0.4、0.45、0.5、0.65、0.8、1.0、1.27、2.54mm等。
IC封装:QFN、QFP、BGA、DFN、传感器、晶振、电源芯片等(弹性结构,可兼容不同厚度)
高低温范围:常规-55°C~+180°C,更高温度可定制。
高低频率范围:常规1Ghz~5Ghz,更高频率可定制。
适用于:测试、烧录、老化、分析芯片。
使用寿命:普通测试、烧录10万次。(有更长可选用)
交期:普通交期3~5天,定制交期:7个工作日。



机械性能
测试座材料:Peek陶瓷pps、Torlon4203、PEI、Torlon5503
座头材料:AL、Cu、Pom
探针类型:镀金弹簧探针
工作温度:-65~180°C度
探针寿命:10万次
弹簧弹力:20g~30g per Pin

电性能
电流:2A(单pin)
电阻:50mΩ
频宽:>20Ghz-1db


订购热线:13823541217
(电话微信同号)


工厂介绍

谷易电子生产IC51-1004-809-23下压弹片老化座_STM32F103VET6_OTQ-100-0.5-09,同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector/IMU socket等。

产品简介

产品用途 编程座、测试座,对QFP100的IC芯片进行烧写、测试
适用封装 QFP100引脚间距0.5mm
测试座 OTQ-100-0.5-09
特点
  • 在两侧分别引出所有IO口,方便用户整理插线

对应国外产品型号:OTQ-100-0.5-09