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主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

QFP封装系列

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QFP100pin封装芯片翻盖旋钮探针测试治具

深圳谷易电子QFP100pin测试治具规格

芯片封装类型:QFP

芯片引脚:100pin

芯片引脚间距:0.5mm

芯片尺寸:14×14mm(含引脚尺寸:16×16mm)

频率200Mhz以内

温度常温

电流1A以内


深圳谷易电子生产的QFP100pin封装芯片翻盖旋钮探针测试治具

芯片测试治具,QFP测试治具

测试治具结构:翻盖式旋钮

测试治具材料:合金

制作方式:加工定制