深圳谷易电子生产的QFP64pin芯片老化测试座socket—QFP芯片老炼夹具_简介_性能_特点_规格_应用

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QFP封装系列

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QFP64pin芯片老化测试座socket—QFP芯片老炼夹具

QFP64pin芯片老炼测试夹具规格参数信息：
芯片封装形式：QFP
芯片引脚：64pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片本体尺寸：10*10mm
含引脚尺寸：12*12mm

深圳谷易电子生产的QFP64pin芯片老化测试座socket—QFP芯片老炼夹具的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用于QFP64pin芯片测试环境：老炼、测试、烧录，支持芯片可靠性测试、芯片功能性测试、芯片高性能测试

QFP64pin芯片老化测试座产品简介：

芯片测试电流：800mA

芯片测试频率：800Mhz

芯片测试温度：-45°~+125°

芯片老炼夹具结构：翻盖式+带散热

芯片老化测试座材料：合金

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