深圳谷易电子生产的ESOP8pin芯片老化测试座socket—ESOP芯片老炼夹具_简介_性能_特点_规格_应用

深圳市谷易电子有限公司欢迎您！

热搜关键词： 微针模组、BGA、DDR、SOP/TSOP、QFP、TO封装系列

深圳市谷易电子有限公司

联系电话：13823541376

联系人：兰小姐

邮箱：sales@goodesocket.com

主营产品：定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

SOP/TSOP封装系列

当前位置：首页 > 产品中心 > SOP/TSOP封装系列

ESOP8pin芯片老化测试座socket—ESOP芯片老炼夹具

ESOP8pin芯片老化测试夹具规格参数：
芯片封装形式：ESOP
芯片引脚：8pin
芯片引脚间距：1.27mm
适用芯片尺寸：4.6*6mm

深圳谷易电子生产的ESOP8pin芯片老化测试座socket—ESOP芯片老炼夹具的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用ESOP8pin芯片测试环境：老化、测试、烧录（该款为老化测试，支持开尔文测试）

ESOP8芯片老化测试socket产品简介：

芯片测试电流：0.5A

芯片老化测试温度：-45°~+155°，老化时长168h和1000h重复使用

芯片老化座结构：翻盖式

芯片老化夹具材料：塑胶