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主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

ATE测试座

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QFN44-0.4 ATE测试座适用于自动机台测试烧录

定制类型:QFN、DFN、集成模块、BGA等芯片的各种:测试座、老化座、测试治具、测试夹具、自动化设备等。
常见芯片:WIFI、互联网、传感器、车规芯片、电源芯片等。
PCB定制:可以提供通用转48pin双排针转接板、也可以根据需求定制,免费画板。
IC脚位间距:0.2、0.3、0.35、0.4、0.45、0.5、0.65、0.8、1.0、1.27、2.54mm等。
IC封装:QFN、QFP、BGA、DFN、传感器、晶振、电源芯片等(弹性结构,可兼容不同厚度)
高低温范围:常规-55°C~+180°C,更高温度可定制。
高低频率范围:常规1Ghz~5Ghz,更高频率可定制。
适用于:测试、烧录、老化、分析芯片。
使用寿命:普通测试、烧录10万次。(有更长可选用)
交期:普通交期3~5天,定制交期:7个工作日。


pogo pin QFN测试座老化座 QFn ATE测试座产品特点:


1,采用自动机压结构,操作方便,工作效率大大提高;
2,探针一端接触QFN芯片,一端接触测试板相对应焊盘点,接触稳定。
3,高精度的定位槽和导向孔,保证IC定位精确,测试精准率高;
4,探针可更换,维修方便,成本低;
5,绝缘材料:torlon,PEI,PEEK,PPS,FR4,
6,小可做到的测试间距PITCH=0.25MM;
7,测试频率可达15GHZ;
8,用途:集成电路应用功能验证测试;

9,可根据用户需求定做各种阵列的自动/手动测试座。


订购热线:13823541217

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pogo pin QFN测试座老化座 QFn44 ATE测试座


pogo pin QFN测试座老化座 QFn ATE测试座产品特点:

1,采用自动机压结构,操作方便,工作效率大大提高;

2,探针一端接触QFN芯片,一端接触测试板的相对应焊盘点,接触稳定。
3,高精度的定位槽和导向孔,保证IC定位精确,测试精准率高;
4,探针可更换,维修方便,成本低;
5,绝缘材料:torlon,PEI,PEEK,PPS,FR4,
6,小可做到的测试间距PITCH=0.25MM;
7,测试频率可达15GHZ;
8,用途:集成电路应用功能验证测试;
9,可根据用户需求定做各种阵列的自动/手动测试座。


QFN44测试座可直接通过双头探针转接在PCBA测试板上,通过螺丝孔和定位销孔固定。定制各种BGA,QFN,DFN,FBGA,BGA,PBGA等封装的测试座,根据客户要求定做,一个起订,使用寿命15万次以上。具体结构参数欢迎来电咨询洽谈!