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主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

ATE测试座

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EMMC153pin芯片一拖双工位ATE自动化测试座socket—BGA153芯片测试夹具

EMMC153pin芯片ATE自动化测试座规格参数:
支持芯片封装形式:EMMC/BGA
芯片引脚:153pin(实际下针83pin)
芯片引脚间距:0.5mm
适配芯片尺寸:11.5*13mm
接触介质:探针
ATE测试座结构:一拖双工位+ATE自动化测试
ATE测试座支持材料:FR4/PPS/PEI/Torlon/PEEK/PEEK+陶瓷

深圳谷易电子生产提供封装种类齐全BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/TO/LGA/LCC/DDR/FPC/connector/IMU socket等,大量现货标准品,并支持一件定制。

深圳谷易电子生产的EMMC153pin芯片一拖双工位ATE自动化测试座socket—BGA153芯片测试夹具的产品简介,性能,特点,规格,应用,生产厂家介绍

产品介绍: 
产品名称:EMMC153(实际下针83pin)ATE自动化双工位芯片测试座
使用用途:对EMMC153pin(实际下针83pin)芯片进行模拟电路测试、性能测试用,支持芯片功能性测试、芯片可靠性测试 
性能参数:座子需要测试高速HS400,单pin频率1Ghz,电流单pin1A

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