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主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

TO封装系列

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TO3_TO247支持10A电流

定制类型:QFN、DFN、集成模块、BGA等芯片的各种:测试座、老化座、测试治具、测试夹具、自动化设备等。
常见芯片:WIFI、互联网、传感器、车规芯片、电源芯片等。
PCB定制:可以提供通用转48pin双排针转接板、也可以根据需求定制,免费画板。
IC脚位间距:0.2、0.3、0.35、0.4、0.45、0.5、0.65、0.8、1.0、1.27、2.54mm等。
IC封装:QFN、QFP、BGA、DFN、传感器、晶振、电源芯片等(弹性结构,可兼容不同厚度)
高低温范围:常规-55°C~+180°C,更高温度可定制。
高低频率范围:常规1Ghz~5Ghz,更高频率可定制。
适用于:测试、烧录、老化、分析芯片。
使用寿命:普通测试、烧录10万次。(有更长可选用)
交期:普通交期3~5天,定制交期:7个工作日。


测试座型号 : FPQ-64-0.8-10A

测试座品牌 : Enplas

IC本体尺寸 : 14.0×14.0mm

IC含脚尺寸 : 17.2×17.2mm

IC   间 距 : 0.8mm

IC   封 装 : QFP64


订购热线:19921126284

(电话微信同号)


Enplas测试座 QFP64/FPQ-64-0.8-10A编程座 烧录座 适配座

测试座型号 : FPQ-64-0.8-10A
测试座品牌 : Enplas
IC本体尺寸 : 14.0×14.0mm
IC含脚尺寸 : 17.2×17.2mm
IC   间 距 : 0.8mm
IC   封 装 : QFP64

温馨提示:
因为不同尺寸芯片,需对应不同型号测试座,如无法确定需要的测试座规格,请提供芯片尺寸图等信息给我们,

我们会仔细给您确认,针对无标准品测试座芯片或有特殊指标要求,我们可以提供定制品测试座服务,谢谢合作!