深圳谷易电子生产的TO252-5pin老化测试座socket_概述_性能_特点_规格_应用

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主营产品：定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

TO封装系列

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TO252-5pin老化测试座socket

TO252-5pin老化测试座规格参数：
封装类型：TO252
引脚：5pin
引脚间距：1.14mm
本体尺寸：6.4mm
含引脚尺寸：10.6mm

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适用于器件/芯片TO封装测试、老化

产品简介：

该款TO252-5pin老化测试需要做一拖四结构

老化测试温度：-45°~+125°

测试电流：1A

无其他测试要求

TO老化座结构：翻盖式

TO老化座结构：合金