深圳谷易电子生产的场效应管MOS管TO247下压老化测试座socket_概述_性能_特点_规格_应用

深圳市谷易电子有限公司欢迎您！

热搜关键词： 微针模组、BGA、DDR、SOP/TSOP、QFP、TO封装系列

深圳市谷易电子有限公司

联系电话：13823541376

联系人：兰小姐

邮箱：sales@goodesocket.com

主营产品：定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

TO封装系列

当前位置：首页 > 产品中心 > TO封装系列

场效应管MOS管TO247下压老化测试座socket

TO247器件老化测试座规格参数：
器件封装类型：TO247
引脚：4pin
引脚间距：5.44mm
测试座类型：下压式
适用场景：老化/测试/烧录

深圳谷易电子生产的场效应管MOS管TO247下压老化测试座socket的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

TO-247封装老化测试夹具测试座肖特基二极管测试夹具

特点：单PIN引脚使用多跟探针接触，保证大功率、大电流稳定传输，散热大焊盘使用接地散热探针来加速管子散热不易烧坏。