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深圳市谷易电子有限公司
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主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座
深圳谷易电子生产的TO247-3L功率器件下压老化测试座socket的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍
TO247场效应管MOS管TO-247封装老化测试夹具测试座肖特基二极管测试夹具
特点:单PIN引脚使用多跟探针接触,保证大功率、大电流稳定传输,散热大焊盘使用接地散热探针来加速管子散热不易烧坏。
TO247-3pin大电流下压老化座产品简介:
适配IC封装:TO247
pin脚数:3pin
引脚中心距:2.54mm
电流:单pin持续电流≤2A
工作温度:PEI/PES:-55°C-175°C
PPS:-55°C-200°C
耐压:2000V
频率:≤200MHZ
机械寿命:≥50000次
使用寿命:≥50000次
TO247老化座支持3pin和4pin下针,图纸如下:
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