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主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

TO封装系列

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HAST/HTOL高温高湿实验TO252-5L老化测试座—老化板

TO252-5L老化板+老化座
封装类型:TO252
适用于:HAST/HTOL测试,高温高湿测试
burn in test socket

深圳谷易电子生产的HAST/HTOL高温高湿实验TO252-5L老化测试座—老化板的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用于TO252-5L系列测试环境:老化、测试,HAST/HTOL高温高湿测试
TO252-5L老化座+老化板产品简介:
TO-252-5L封装是一种常见的电子元件封装形式,它是一种塑料封装,用于将功率半导体器件封装在一块小的塑料块中。这种封装形式具有体积小、重量轻、成本低、易于集成等优点,因此被广泛应用于各种电子设备中,如电源、电机控制器、逆变器等。
常见的TO252-5L老化座出自鸿怡电子,提供老化座+老化板整套HTOL\HAST试验方案,如下图所示为TO252-5L老化试验板,一板由60只TO252-5L老化夹具组成。老化夹具最高可耐温175℃,PCB老化板采用特定老化材质,表层喷涂三防漆,整套老化板可以长期在温度175℃,85%相对湿度的高温高湿老化环境下工作使用。