深圳谷易电子生产的TO252功率器件老化测试座socket—to器件测试夹具_概述_性能_特点_规格_应用

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主营产品：定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

TO封装系列

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TO252功率器件老化测试座socket—to器件测试夹具

TO252-5L探针老化测试座规格参数：
封装形式：TO252
引脚：5pin
引脚间距：1.27mm
适配尺寸：5.5*6.5mm

深圳谷易电子生产的TO252功率器件老化测试座socket—to器件测试夹具的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用TO252-5L功率器件测试环境：老化、测试、烧录

功率器件电流：单pin电流小于30mA

功率器件老化测试温度：-45°~+155°，须满足单次1000小时

功率器件测试座结构：翻盖式

功率器件测试座材料：塑胶