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主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

TO封装系列

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TO-13pin功率器件老化测试座socket-TO老炼夹具插座

功率器件TO-13pin老化测试座规格参数:
功率器件封装形式:TO
器件引脚:13pin
器件引脚间距:0.75mm
器件尺寸:10.3*9mm
接触介质:探针
老化座结构:翻盖式
老化座材料:PEI+PEEK

深圳谷易电子生产的TO-13pin功率器件老化测试座socket-TO老炼夹具插座的产品简介,性能,特点,规格,应用,生产厂家介绍

深圳谷易电子生产提供封装种类齐全BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/TO/LGA/LCC/DDR/FPC/connector/IMU socket等,大量现货标准品,并支持一件定制。

产品介绍: 
产品名称:TO-13pin-0.75mm塑胶翻盖式功率器件老化测试座
使用用途:对TO13pin功率器件进行模拟电路测试,高性能测试用,支持功率器件功能性测试,功率器件可靠性测试 
性能参数:老化温度:-45°~+125°

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