深圳谷易电子生产的TO94-4pin-1.27mm霍尔传感器芯片测试座-TO芯片测试socket，简介，性能，特点，规格，应用，生产厂家

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主营产品：定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

TO封装系列

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定制TO94-4pin-1.27mm霍尔传感器芯片测试座-TO芯片测试socket

TO94-4pin-1.27mm霍尔传感器芯片测试座规格参数:

芯片封装形式：TO

芯片引脚数：4pin

芯片厚度：1.56mm

适配芯片尺寸：5.22*5.75mm

接触介质：探针

测试座结构：翻盖式

测试座材料：防静电PEEK+合金

联系工程师：19925483684韦工（电话微信同号）

深圳谷易电子生产的TO94-4pin-1.27mm霍尔传感器芯片测试座-TO芯片测试socket的产品简介，性能，特点，规格，应用，生产厂家介绍

产品介绍

产品名称：定制TO94(4PIN)-1.27 5.22X5.75X1.56无磁合金翻盖测试座

使用用途：对TO94-4pin芯片进行模拟电路测试、性能测试使用，支持芯片功能性测试，芯片可靠性测试

性能参数，无磁测试，温度-45~+125

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