深圳市谷易电子有限公司欢迎您!

深圳市谷易电子有限公司

“谷”聚天下之检测
“易”通世界之雄芯
谷易电子

全国服务热线:

13823541376

产品中心Product Center

深圳市谷易电子有限公司

联系电话:13823541376

联系人:兰小姐

邮箱:sales@goodesocket.com

主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

SSD-flash测试夹具

当前位置:首页 > 产品中心 > SSD-flash测试夹具

Loading...

SM2258H转BGA152-132一拖四转DIP48测试座SATA接口测试治具

定制类型:QFN、DFN、集成模块、BGA等芯片的各种:测试座、老化座、测试治具、测试夹具、自动化设备等。
常见芯片:WIFI、互联网、传感器、车规芯片、电源芯片等。
PCB定制:可以提供通用转48pin双排针转接板、也可以根据需求定制,免费画板。
IC脚位间距:0.2、0.3、0.35、0.4、0.45、0.5、0.65、0.8、1.0、1.27、2.54mm等。
IC封装:QFN、QFP、BGA、DFN、传感器、晶振、电源芯片等(弹性结构,可兼容不同厚度)
高低温范围:常规-55°C~+180°C,更高温度可定制。
高低频率范围:常规1Ghz~5Ghz,更高频率可定制。
适用于:测试、烧录、老化、分析芯片。
使用寿命:普通测试、烧录10万次。(有更长可选用)
交期:普通交期3~5天,定制交期:7个工作日。



规格尺寸


A、型号:BGA152/132-1.0

B、引脚间距(mm):1.0

C、脚位:88

测试座适配芯片尺寸:12*18mm 或 14*18mm 可更换限位框

订购热线:19921126284

(电话微信同号)

厂家介绍:

谷易电子生产SM2258H转BGA152-132一拖四转DIP48测试座SATA接口测试治具,同时生产其他IC测试设备



BGA152翻盖弹片一拖四测试夹具是我公司为了FLASH行 业研发的低成本解决方案,翻盖操作取换芯片简单,大批量测试时减少对测试员工手的伤害!成为最高性价比的测试座,该产品采用弓形弹片结构,这种结构加上进 口铍 铜镀金有良好的伸缩性能,特殊的月牙形针头,更可以做到日本等品牌测试座做不到重要的特点:我们的可以有球无球残球均可测试!而其他品牌只能测试新的有球 的芯片。


产品简介

A、产品用途:测试治具,对BGA152的IC芯片进行测试。

B、适用封装:BGA152、BGA132 引脚间距1.0mm

C、测试座:BGA152/132-1.0



产品特点


现在SSD固态硬盘与U盘3.0市场BGA132/152的芯片使用量越来越大,固态硬盘的容量与速度越来越大,现在8CE的FLASH也在各大厂家使用越来越多了,我公司为了方便各大测试厂测试生产的便利,开发了一款多功能固态硬盘测试板。

测试BGA132/152的FLASH。

SM2258H主控

规格尺寸

A、型号:BGA152/132-1.0

B、引脚间距(mm):1.0

C、脚位:88

测试座适配芯片尺寸:12*18mm 或 14*18mm 可更换限位框