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主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

SSD-flash测试夹具

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SSDsocketFlashBGA152测试座SSD一拖二测试板SM2246EN闪存测试

定制类型:QFN、DFN、集成模块、BGA等芯片的各种:测试座、老化座、测试治具、测试夹具、自动化设备等。
常见芯片:WIFI、互联网、传感器、车规芯片、电源芯片等。
PCB定制:可以提供通用转48pin双排针转接板、也可以根据需求定制,免费画板。
IC脚位间距:0.2、0.3、0.35、0.4、0.45、0.5、0.65、0.8、1.0、1.27、2.54mm等。
IC封装:QFN、QFP、BGA、DFN、传感器、晶振、电源芯片等(弹性结构,可兼容不同厚度)
高低温范围:常规-55°C~+180°C,更高温度可定制。
高低频率范围:常规1Ghz~5Ghz,更高频率可定制。
适用于:测试、烧录、老化、分析芯片。
使用寿命:普通测试、烧录10万次。(有更长可选用)
交期:普通交期3~5天,定制交期:7个工作日。



规格尺寸


型号:BGA152/132-1.0

引脚间距(mm):1.0

脚位:88

芯片尺寸:12*18/14*18 可更换限位框。

订购热线:19921126284

(电话微信同号)

厂家介绍:

谷易电子生产SSDsocketFlashBGA152测试座 SSD一拖二测试板SM2246EN闪存测试,同时生产其他IC测试设备



2246EN转DIP48测试板暂时只能支持MLC等级的FLASH,支持4CE以下的芯片,产品特点:可以测试各类封装的FLASH BGA100 /132/152 /TSOP48/LGA等转DIP48的测试座都可以随意更换,每款测试座都转成了由我公司定义的行业通用标准48pin,不仅可以用在固态硬盘测试架上,如果有一些不能用于SSD等级的芯片也可以用我们的测试座插在U盘方案的一拖四测试架上面测试,为客户减少测试架成本。我们的测试座限位框都是只需要取两个螺丝就可以轻松更换。


产品简介

产品用途:对BGA152/132的IC芯片进行测试

适用封装:BGA152、BGA132 引脚间距1.0mm

测试座:BGA152/132-1.0

特点:可更换测试座,节约成本

规格尺寸

型号:BGA152/132-1.0

引脚间距(mm):1.0

脚位:88

芯片尺寸:12*18/14*18 可更换限位框。