SSD一拖二万能测试板NAND_Flash测试板SM2246EN主控闪存测试_概述_性能_特点_规格_应用

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SSD-flash测试夹具

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SSD一拖二万能测试板NAND_Flash测试板SM2246EN主控闪存测试

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谷易电子生产SSD一拖二万能测试板NAND_Flash测试板SM2246EN主控闪存测试，同时生产其他IC测试设备

此板采用SM2246EN主控、128MB缓存可以兼容BGA152/132/88/100、TSOP48等多种封装闪存芯片测试。测试版已焊接好端子板，测试座可随意插拔互换。

功能一测试TSOP48封装的FLASH。插好TSOP48转DIP48测试座后可以同时测试二颗（4CE）TSOP48闪存芯片。

功能二，可以同时插拔我公司翻盖弹片转DIP48的BGA132/152/100 4CE的测试座。可以同时插二个测试座，同时测试4颗FLASH；

功能三当遇到测试8CE的BGA132/152时，普通的转dip48已经无法将所有的芯片引脚引出，我们公司定义了一款转dip96pin的BGA132/152的测试座，可以完美的解决这个问题,一个测试板可以插两个测试座，同时测试两颗8CE的Falsh。