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主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

SSD-flash测试夹具

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一拖四万能测试板安国AU6989测试板USB接口FLASH测试方案

定制类型:QFN、DFN、集成模块、BGA等芯片的各种:测试座、老化座、测试治具、测试夹具、自动化设备等。
常见芯片:WIFI、互联网、传感器、车规芯片、电源芯片等。
PCB定制:可以提供通用转48pin双排针转接板、也可以根据需求定制,免费画板。
IC脚位间距:0.2、0.3、0.35、0.4、0.45、0.5、0.65、0.8、1.0、1.27、2.54mm等。
IC封装:QFN、QFP、BGA、DFN、传感器、晶振、电源芯片等(弹性结构,可兼容不同厚度)
高低温范围:常规-55°C~+180°C,更高温度可定制。
高低频率范围:常规1Ghz~5Ghz,更高频率可定制。
适用于:测试、烧录、老化、分析芯片。
使用寿命:普通测试、烧录10万次。(有更长可选用)
交期:普通交期3~5天,定制交期:7个工作日。



安国测试板,把转DIP48测试座转成USB接口,连接电脑测试


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产品简介

用途:1、安国测试板,把转DIP48测试座转成USB接口,连接电脑测试

2、提供基于U盘的1拖4 TSOP测试夹具(兴邦、安国、迈克微),更换SOCKET可以实现LGA与TSOP共用

特点: 测试板插上转接板,测试座无需焊接,对针孔插在转接板上即可

主要功能:支持BGA152/132/100/63 /.......封装TSOP48nand flash的料型/ID/容量/好坏/坏块