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主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

定制IC test socket

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定制CQFP208芯片测试座_QFP老化座

定制类型:QFN、DFN、集成模块、BGA等芯片的各种:测试座、老化座、测试治具、测试夹具、自动化设备等。
常见芯片:WIFI、互联网、传感器、车规芯片、电源芯片等。
PCB定制:可以提供通用转48pin双排针转接板、也可以根据需求定制,免费画板。
IC脚位间距:0.2、0.3、0.35、0.4、0.45、0.5、0.65、0.8、1.0、1.27、2.54mm等。
IC封装:QFN、QFP、BGA、DFN、传感器、晶振、电源芯片等(弹性结构,可兼容不同厚度)
高低温范围:常规-55°C~+180°C,更高温度可定制。
高低频率范围:常规1Ghz~5Ghz,更高频率可定制。
适用于:测试、烧录、老化、分析芯片。
使用寿命:普通测试、烧录10万次。(有更长可选用)
交期:普通交期3~5天,定制交期:7个工作日。



材质:  铝合金,FR4

接触阻抗: 28~40g / Pin

接触电阻: 25mΩ max.

介质承受电压: 10 A / 5 Minutes

绝缘电阻: 1000 mΩ  Min,At DC 500V

最大电流容量: 50mA / Wire

操作温度范围: From -45℃ to + 125℃

机械寿命: 80,000 Times(Mechanical)

频率: >1600Hz



订购热线:13631539217

(电话微信同号)


◆  采用手动翻盖/双扣式结构,操作方便;
◆  上盖的IC压板采用旋压式结构,下压
平稳,保证IC的压力均匀,不移位;
◆  探针的特殊头形突起能刺破焊接球的
氧化层,接触可靠,而不会损伤锡球;
◆  高精度的定位槽和导向孔,保证IC定
位精确,测试效率高;
◆  最小可做到的测试间距pitch=0.25mmm;
◆  测试频率可达9.3GHz;
◆  用途:集成电路应用功能验证测试;
◆  可根据用户要求定做各种阵列的socket