深圳谷易电子生产的金手指模块17pin-1.54mm-29×29mm合金翻盖探针测试座

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金手指模块17pin-1.54mm-29×29mm合金翻盖探针测试座

金手指模块测试座规格

PIN脚：17pin

引脚间距：1.54mm

模块尺寸：29×29mm

测试座结构：翻盖式探针

测试座材料：合金

深圳谷易电子生产的金手指模块17pin-1.54mm-29×29mm合金翻盖探针测试座

金手指模块老化测试座，金手指测试夹具

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