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定制IC test socket

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CLCC24pin封装芯片测试座

CLCC24pin芯片测试座规格参数:

芯片封装类型:CLCC

芯片引脚:24pin

芯片引脚间距:1.27mm

芯片尺寸:10×10mm

芯片厚度:1.85mm



深圳谷易电子生产的CLCC24pin封装芯片测试座

CLCC芯片测试座、LCC芯片测试座、PLCC芯片测试座、老化座

测试座结构:翻盖式

测试座材料:合金

制作方式:加工定制