深圳谷易电子生产的LGA6pin封装芯片探针测试座_概述_性能_特点_规格_应用

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主营产品：定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

定制IC test socket

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LGA6pin封装芯片探针测试座

LGA芯片测试座规格参数：

芯片封装类型：LGA

芯片引脚：6pin

芯片引脚间距：0.6mm

芯片尺寸：2.35×1.8mm

深圳谷易电子生产的LGA6pin封装芯片探针测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

LGA芯片测试座,LGA芯片老化座,LGA芯片烧录座

LGA6pin封装芯片测试要求：

老化测试温度：-40°~+125°

老化测试时长：1000小时

无其他测试要求

测试座材料：塑胶

测试座结构：翻盖式