深圳谷易电子生产的LGA45pin芯片测试座socket_概述_性能_特点_规格_应用

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主营产品：定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

定制IC test socket

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LGA45pin芯片测试座socket

LGA45pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：LGA
芯片引脚：45pin
芯片引脚间距：0.8mm
芯片尺寸：7.8×8.5mm

深圳谷易电子生产的LGA45pin芯片测试座socket的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

LGA芯片测试座、LGA芯片老化座、LGA芯片烧录座

LGA45pin芯片测试条件要求：

芯片测试速率：5.25Gbps

芯片测试频率：2.6Ghz

测试电流：1A

测试温度：常温

测试座结构：旋钮翻盖式

测试座材料：合金