深圳谷易电子生产的探测器件40PIN探针测试座socket_概述_性能_特点_规格_应用

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主营产品：定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

定制IC test socket

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探测器件40PIN探针测试座socket

探测器件40pin测试座socket规格参数：
器件引脚：40pin
器件引脚间距：1.27mm
器件尺寸：22×22mm
接地：3pin

深圳谷易电子生产的探测器件40PIN探针测试座socket的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

产品简介：

器件测试频率：100Mhz

器件测试电流：200ma

器件测试湿度：0~80%RH

器件测试温度：-40°~+60°

该款探测器件测试座要求需要开天窗

测试座结构：翻盖式

测试座材料：合金