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主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

定制IC test socket

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LCC48pin芯片探针测试座socket

LCC48pin芯片测试座规格参数:
芯片封装类型:LCC
芯片引脚:48pin
芯片引脚间距:0.5mm
适用芯片尺寸:8.5*8.5mm

深圳谷易电子生产的LCC48pin芯片探针测试座socket的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用测试环境:老化、测试、烧录

LCC48pin芯片测试座产品简介:

芯片测试频率:2Ghz

芯片测试电流:450mA

芯片测试温度:-55°~125°

信号传输速率:14Gpbs

测试座结构:翻盖式

测试座材料:合金