深圳谷易电子生产的LCC4(下7PIN）芯片探针测试座socket_概述_性能_特点_规格_应用

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主营产品：定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

定制IC test socket

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LCC4(下7PIN）芯片探针测试座socket

LCC4pin（实际下针7pin）芯片测试座规格参数信息：
芯片封装形式：LCC
芯片引脚：4pin（实际下针7pin）
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：2*1.45,mm

深圳谷易电子生产的LCC4(下7PIN）芯片探针测试座socket的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用LCC4pin芯片测试环境：老化、测试、烧录

LCC4pin芯片测试座产品简介：

芯片测试电流：1A

芯片测试频率：300mA

芯片测试温度：-45°~+125°

测试座结构：翻盖式

测试座材料：合金