深圳谷易电子生产的LCC48pin芯片探针测试座socket_概述_性能_特点_规格_应用

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主营产品：定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

定制IC test socket

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LCC48pin芯片探针测试座socket

LCC48pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：LCC
芯片引脚：48pin
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：11*11mm
芯片厚度：1.82mm

深圳谷易电子生产的LCC48pin芯片探针测试座socket的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用LCC48pin芯片测试环境：老化、测试、烧录

LCC48pin芯片测试座产品简介：

芯片测试频率：10Mhz

芯片测试电流：40mA

芯片测试温度范围：-45°~+80°，持续时长：72小时

芯片旋转测试：不超过600°/s

芯片振动测试：不超过30g

芯片测试座结构：翻盖式

芯片测试座材料：合金

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