深圳谷易电子生产的LCC8pin一拖十六工位双扣式测试座socket_概述_性能_特点_规格_应用

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主营产品：定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

定制IC test socket

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LCC8pin一拖十六工位双扣式测试座socket

LCC8pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：LCC
芯片引脚：8pin
芯片引脚间距：1.27mm
适配芯片尺寸：3*3mm
一拖十六工位

深圳谷易电子生产的LCC8pin一拖十六工位双扣式测试座socket的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用LCC8pin芯片测试环境：老化、测试、烧录

LCC8pin芯片测试座产品简介：

芯片测试电流：50mA

芯片测试速率：最高3.125Gbps

芯片测试频率：1.6Ghz

芯片测试温度：-40°~+125°

芯片测试座结构：翻盖式，一拖十六工位

芯片测试座材料：合金