深圳谷易电子生产的14pin光耦器件测试座socket—光耦芯片测试夹具_概述_性能_特点_规格_应用

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主营产品：定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

定制IC test socket

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14pin光耦器件测试座socket—光耦芯片测试夹具

光耦14pin芯片测试座规格参数：
芯片引脚：14pin
引脚间距：1.27mm
适配芯片尺寸：22*27mm
芯片厚度：5mm

深圳谷易电子生产的14pin光耦器件测试座socket—光耦芯片测试夹具的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用光耦器件14pin测试环境：老化、测试、烧录，支持芯片HAST测试

光耦器件14pin芯片测试座产品简介：

器件测试频率：2khz

光耦器件测试电流：20mA

光耦器件测试温度：-55°~+125°，湿度：85%，持续1000小时

测试座结构：旋钮翻盖式

测试座材料：合金