深圳谷易电子生产的PCB集成模块54PIN测试座socket—pcb集成模块测试夹具_概述_性能_特点_规格_应用

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主营产品：定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

定制IC test socket

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PCB集成模块54PIN测试座socket—pcb集成模块测试夹具

PCB集成模块54pin测试座规格参数：
制作方式：加工定制
模块引脚：54pin
模块引脚间距：1.1mm
模块尺寸：22*17mm
厚度：2.4mm

深圳谷易电子生产的PCB集成模块54PIN测试座socket—pcb集成模块测试夹具的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

PCB集成模块54PIN测试环境：老化、测试、烧录

PCB集成模块54PIN测试座产品简介：

模块射频信号测试：2G

模块测试插损：<1db，回损：<-10db

模块测试电流：1A

PCB集成模块测试温度：-45°~+155°

模块测试座结构：翻盖式