深圳谷易电子生产的WLCSP73pin射频芯片测试座socket—WLCSP芯片测试夹具_简介_性能_特点_规格_应用

深圳市谷易电子有限公司欢迎您！

热搜关键词： 微针模组、BGA、DDR、SOP/TSOP、QFP、TO封装系列

产品中心Product Center

深圳市谷易电子有限公司

联系电话：13823541376

联系人：兰小姐

邮箱：sales@goodesocket.com

主营产品：定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

定制IC test socket

当前位置：首页 > 产品中心 > 定制IC test socket

WLCSP73pin射频芯片测试座socket—WLCSP芯片测试夹具

WLCSP73pin芯片测试座socket规格参数：
芯片封装形式：WLCSP
芯片引脚：73pin
芯片引脚间距：0.4mm
适配芯片尺寸：3.84*4.1mm

深圳谷易电子生产的WLCSP73pin射频芯片测试座socket—WLCSP芯片测试夹具的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用于WLCSP73pin芯片测试环境：老化、测试、烧录，芯片功能测试、芯片性能测试，射频芯片测试

WLCSP73pin射频芯片测试夹具产品简介：

芯片测试频率：单pin过3Ghz

芯片测试电压：5V/500mA

芯片测试插损：1db

芯片测试温度：-45°~+125°

芯片测试座结构：翻盖式

芯片测试夹具材料：合金

上一篇： WLCSP73pin芯片测试座socket—WLCSP芯片测试夹具

下一篇： PLCSP25pin芯片测试座socket—PLCSP芯片测试夹具

产品中心Product Center

WLCSP73pin射频芯片测试座socket—WLCSP芯片测试夹具

在线咨询