深圳谷易电子生产的DIP34pin芯片测试座socket—DIP封装转接插座_简介_性能_特点_规格_应用

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主营产品：定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

定制IC test socket

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DIP34pin芯片测试座socket—DIP封装转接插座

DIP34pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：DIP
芯片引脚：34pin
芯片引脚间距：3.8mm
适配芯片尺寸;57.1*89.3
接触介质：探针
测试插座结构：旋钮翻盖式
测试座材料：合金、PEEK

深圳谷易电子生产的DIP34pin芯片测试座socket—DIP封装转接插座的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用于DIP34pin芯片测试环境：模拟电路导通测试、老化、烧录，转接测试

DIP34pin芯片测试座产品简介：

芯片测试速率：100M

芯片测试电流：200mA

芯片测试温度：100°

我厂支持非标来图一件定制，提供完善的整套IC测试解决方案，并可提供类似案例参考，详询请联系客服