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主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

晶振老化测试座

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3225晶振4pin一拖十六翻盖测试座socket—晶振测试夹具

3225晶振4pin一拖十六工位测试座规格参数:
引脚:4pin
引脚间距:2.24mm
适配尺寸:3.2*2.5mm
一拖十六工位(开天窗)
天窗尺寸:1.5*1.5mm

深圳谷易电子生产的3225晶振4pin一拖十六翻盖测试座socket—晶振测试夹具的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用3225晶振4pin测试环境:老化、测试、烧录

3225晶振4pin测试座产品简介:

晶振测试电流:25mA

晶振测试频率:60Mhz

测试温度:-40°~+85°

晶振测试座结构:翻盖式(开天窗)

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