深圳谷易电子生产的SOT89-5L探针测试座socket_概述_性能_特点_规格_应用

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主营产品：定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

SOT封装系列

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SOT89-5L探针测试座socket

SOT89封装芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：SOT89
芯片引脚：5pin
芯片引脚间距：1.5mm
芯片尺寸：2.5×4.5mm

深圳谷易电子生产的SOT89-5L探针测试座socket的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

产品简介

适用于SOT89芯片测试、老化，采用开尔文方式

芯片测试电流：1A

芯片测试温度：-25~+125度

无其他测试要求

测试座结构：翻盖式

测试座材料：合金