深圳谷易电子生产的SOT23-8L芯片下压测试座sokcet_概述_性能_特点_规格_应用

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主营产品：定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

SOT封装系列

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SOT23-8L芯片下压测试座sokcet

SOT23-8L芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：SOT23
芯片引脚：8pin
芯片引脚间距：0.65mm
适配芯片尺寸：2.9*2.8mm

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适用SOT23芯片测试环境：老化、测试、烧录，适用芯片HAST测试/HTOL测试

SOT23-8L芯片测试座产品简介：

HTOL测试：+125°，持续1000小时

HAST测试：+130°，相对湿度85%，96小时*5

芯片测试电流：8A

芯片测试座结构：下压式

芯片测试座材料：合金