深圳谷易电子生产的模块4pin一托十工位老化测试座+老化板,简介,性能,特点,规格,应用,生产厂家

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热搜关键词： 微针模组、BGA、DDR、SOP/TSOP、QFP、TO封装系列

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主营产品：定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

IC老化板方案

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模块4pin一托十工位老化测试座+老化板

模块4pin老化座+老化板规格参数：
模块引脚：4pin
模块引脚间距：5mm
适配模块尺寸：23.6*21.6mm
模块厚度：1.3mm
老化座结构：翻盖式
老化座材料：合金+PEEK

深圳谷易电子生产提供封装种类齐全BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/TO/LGA/LCC/DDR/FPC/connector/IMU socket等，大量现货标准品，并支持一件定制。

深圳谷易电子生产的模块4pin一托十工位老化测试座+老化板的产品简介,性能,特点,规格,应用,生产厂家介绍

产品介绍：
产品名称:模块4pin一托十工位老化测试座+老化板
使用用途：对4pin模块进行模拟电路测试、性能测试用，支持模块功能性测试、模块可靠性测试

性能参数：频率800Mhz,电流300mA. 测试温度：-45°~+125°