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主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

SMA/B/C/D封装

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SMD4pin芯片探针测试座socket

SMD4pin芯片测试座规格参数:
芯片封装形式:SMD
芯片引脚间距:3.8mm
适配芯片尺寸:7.55*7.55mm

深圳谷易电子生产的SMD4pin芯片探针测试座socket的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用SMD4pin芯片测试环境:老化、测试、烧录

SMD4pin芯片测试座产品简介:

芯片测试频率:500Mhz

芯片测试电流脉冲:≤10A,测试时长:1分钟

芯片测试温度:-45°~+125°

SMD芯片测试座结构:翻盖式

SMD芯片测试座材料:合金

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