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主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

SMA/B/C/D封装

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表贴器件SMD4pin测试座socket—SMD测试夹具

SMD4pin器件测试座socket规格参数:
器件封装形式:SMD
器件引脚:4pin
器件引脚间距:1.8mm
适配器件尺寸:3.75*3.55mm
接触介质:探针
测试座结构:翻盖式
测试座材料:合金、PEEK

深圳谷易电子生产的表贴器件SMD4pin测试座socket—SMD测试夹具的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用于表贴器件SMD4pin模拟电路测试环境:老化、测试、烧录,支持大批量老化测试解决方案

支持单工位、多工位测试

表贴器件SMD4pin测试夹具产品简介:

器件测试频率:1Ghz

器件测试电流:小于10mA

器件测试温度:-45°~+65°

我厂支持非标来图一件定制,提供完善的整套IC测试解决方案,并可提供类似案例参考,详询请联系客服