深圳谷易电子生产的LGA144pin芯片探针老化测试座socket_概述_性能_特点_规格_应用

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主营产品：定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

LGA封装系列

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LGA144pin芯片探针老化测试座socket

LGA芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：LGA
芯片引脚：144pin
芯片引脚间距：1.27mm
芯片尺寸：15×15mm
厚度：2.82mm

深圳谷易电子生产的LGA144pin芯片探针老化测试座socket_概述_性能_特点_规格_应用_生产厂家

该款芯片探针测试座适用于LGA144pin芯片测试、老化、烧录使用

产品简介：

芯片老化测试温度：-50°~125°

芯片测试电流：1A

芯片测试频率：1Ghz

老化测试座结构：旋钮翻盖式

老化测试座材料：合金