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主营产品：定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

LGA封装系列

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LGA8pin芯片老化测试座—lga芯片老炼测试夹具

LGA8pin芯片老化测试座规格参数：
芯片封装形式：LGA
芯片引脚：8pin
芯片引脚间距：1.0
适配芯片尺寸：4*4mm
接触介质：探针
老化座结构：翻盖式
老化座材料：PEI
一拖四工位

深圳谷易电子生产的LGA8pin芯片老化测试座—lga芯片老炼测试夹具的产品简介,性能,特点,规格,应用,生产厂家介绍

适用LGA8pin芯片模拟电路测试环境：老化、测试、烧录，支持芯片可靠性测试、芯片高性能测试、芯片功能性测试

LGA8pin芯片老炼测试夹具产品简介：

芯片测试电流：500mA

芯片测试频率：150Mhz

芯片老化测试温度：-45°~+135°，单次时长：96小时，总时长5000小时

我厂支持非标来图一件定制，提供完善的整套IC测试解决方案，并可提供类似案例参考，详询请联系客服

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