深圳谷易电子生产的LGA24pin芯片测试座socket—lga芯片测试夹具,简介,性能,特点,规格,应用,生产厂家

深圳市谷易电子有限公司欢迎您！

热搜关键词： 微针模组、BGA、DDR、SOP/TSOP、QFP、TO封装系列

产品中心Product Center

深圳市谷易电子有限公司

联系电话：13823541376

联系人：兰小姐

邮箱：sales@goodesocket.com

主营产品：定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

LGA封装系列

当前位置：首页 > 产品中心 > LGA封装系列

LGA24pin芯片测试座socket—lga芯片测试夹具

LGA24pin芯片测试座socket规格参数：
芯片封装形式：LGA
芯片引脚：24pin
芯片引脚间距：0.45mm
适配芯片尺寸：4*6mm
接触介质：探针
测试座结构：下压式
测试座材料：合金、PEEK

深圳谷易电子生产的LGA24pin芯片测试座socket—lga芯片测试夹具的产品简介,性能,特点,规格,应用,生产厂家介绍

适用于LGA24pin芯片模拟电路测试环境：老化、测试、烧录，支持芯片可靠性测试、芯片功能性测试、芯片高性能测试

LGA24pin芯片测试夹具产品简介：

芯片测试电流：最大电流满足单pin过流1.5A

芯片测试频率：800Mhz

芯片测试温度：常温测试

我厂支持非标来图一件定制，提供完善的整套IC测试解决方案，并可提供类似案例参考，详询请联系客服

上一篇： LGA79pin芯片测试座socket—lga芯片测试夹具

下一篇： LGA8pin芯片老化测试座—lga芯片老炼测试夹具

产品中心Product Center

LGA24pin芯片测试座socket—lga芯片测试夹具

在线咨询