深圳谷易电子生产的LGA79pin芯片测试座socket—lga芯片测试夹具,简介,性能,特点,规格,应用,生产厂家

深圳市谷易电子有限公司欢迎您！

热搜关键词： 微针模组、BGA、DDR、SOP/TSOP、QFP、TO封装系列

深圳市谷易电子有限公司

联系电话：13823541376

联系人：兰小姐

邮箱：sales@goodesocket.com

主营产品：定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

LGA封装系列

当前位置：首页 > 产品中心 > LGA封装系列

LGA79pin芯片测试座socket—lga芯片测试夹具

LGA79pin芯片测试座socket规格参数：
芯片封装形式：LGA
芯片引脚：79pin
芯片引脚间距：1.1mm
适配芯片尺寸：16*12.2mm
接触介质：弹针
测试座结构：翻盖式
测试座材料：合金、PEEK

谷易电子生产提供封装种类齐全BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/TO/LGA/LCC/DDR/FPC/connector/IMU socket等，大量现货标准品，并支持一件定制。

深圳谷易电子生产的LGA79pin芯片测试座socket—lga芯片测试夹具的产品简介,性能,特点,规格,应用,生产厂家介绍

产品介绍：
产品名称:LGA79pin-1.1mm-16×12.2mm合金翻盖弹针芯片测试座socket
使用用途：对LGA79pin芯片进行模拟电路测试、性能测试用，支持芯片功能性测试、芯片可靠性测试
性能参数：电流600mA，电压3.3V ，温度范围-45~85°