深圳谷易电子生产的LGA42（下针31PIN）-0.7mm ATE双工位测试座-LGA芯片测试socket，简介，性能，特点，规格，应用，生产厂家

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主营产品：定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

LGA封装系列

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定制LGA42（下针31PIN）-0.7mm ATE双工位测试座-LGA芯片测试socket

LGA42（下针31PIN）-0.7mm ATE双工位测试座规格参数：

芯片封装形式：LGA

芯片引脚数：42pin下针31pin

芯片厚度：4.76mm

适配芯片尺寸：5.7*6.78mm

接触介质：探针

测试座结构：ATE

测试座材料：PEEK

联系工程师：19925483684韦工（电话微信同号）

深圳谷易电子生产的LGA42（下针31PIN）-0.7mm ATE双工位测试座-LGA芯片测试socket的产品简介，性能，特点，规格，应用，生产厂家介绍

产品介绍：

产品名称：定制LGA42（下针31PIN）-0.7 5.7X6.78X4.76 ATE双工位测试座

使用用途：对LGA42pin芯片进行模拟电路测试、性能测试使用，支持芯片功能性测试、芯片可靠性测试

性能参数：频率小于1Ghz，电流单pin1A，温度-45~+125°C

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