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主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

LCC/CLCC封装

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CLCC48pin光模块测试座socket—CLCC光模块测试夹具

CLCC48pin光模块测试夹具规格参数:
光模块封装形式:CLCC
光模块引脚:48pin
光模块引脚间距:0.8mm
适配芯片尺寸:11*11mm
光模块厚度:1.8mm

深圳谷易电子生产的CLCC48pin光模块测试座socket—CLCC光模块测试夹具的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用与CLCC48pin光模块测试环境:老化、测试、烧录,支持模块性能测试、模块功能测试、模块快导通测试

CLCC48pin光模块测试座socket产品简介:

光模块测试频率:300Mhz

光模块测试电流:500mA

光模块测试温度:-45°~+125°

光模块测试座结构:翻盖式

光模块测试夹具材料:PEI