深圳谷易电子生产的LCC6pin芯片老化测试座socket—LCC模块测试夹具,简介,性能,特点,规格,应用,生产厂家

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主营产品：定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

LCC/CLCC封装

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LCC6pin芯片老化测试座socket—LCC模块测试夹具

LCC6pin模块测试座socket规格参数：
封装形式：LCC
引脚：6pin
引脚间距：1.4mm
适配模块尺寸：7.69*5.54
接触介质：探针
老化测试座结构：翻盖式
老炼夹具材料：合金、PEEK

深圳谷易电子生产的LCC6pin芯片老化测试座socket—LCC模块测试夹具的产品简介,性能,特点,规格,应用,生产厂家介绍

适用于LCC6pin模块模拟电路测试环境：老化、测试、烧录，支持模块可靠性测试、模块高性能测试、模块功能性测试

LCC6pin模块测试夹具产品简介：

模块测试电压：5V

模块测试电流：300mA

模块测试频率：500Mhz

模块老化测试温度：+125°

我厂支持非标来图一件定制，提供完善的整套IC测试解决方案，并可提供类似案例参考，详询请联系客服

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