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主营产品：定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

LCC/CLCC封装

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LCC48pin芯片测试座socket—lcc芯片测试夹具

LCC芯片测试座socket规格参数：
芯片封装形式：LCC
芯片引脚：48pin
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：11*11*1.5mm
接触介质：探针
测试座结构：翻盖式
测试座材料：合金、PEEK

谷易电子生产提供封装种类齐全BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/TO/LGA/LCC/DDR/FPC/connector/IMU socket等，大量现货标准品，并支持一件定制。

深圳谷易电子生产的LCC48pin芯片测试座socket—lcc芯片测试夹具的产品简介,性能,特点,规格,应用,生产厂家介绍

产品介绍：
产品名称:LCC48pin-0.8mm-11×11×1.5mm合金探针测试座
使用用途：对LCC48pin芯片进行模拟电路测试、性能测试用，支持芯片功能性测试、芯片可靠性测试
性能参数：工作速率：<10Mbps，单pin电流：≤500mA，接触电阻：≤100mΩ，工作环境温度：-10℃~70℃，寿命≥10000次，工作电压：0~5V。

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